芯片测试服务

提供一站式测试开发及量产管理服务，包含晶圆(CP)和成品(FT)测试程序开发、测试配件设计和生产管理。LYG测试具有不同产品类型开发经验的资深技术人员支持，提供完整、合理测试解决方案。

测试解决方案

测试开发

• 同步芯片规划，以测试面向进行芯片可测试性设计规划，取得最佳测试成本效率
• 同步芯片开发进行测试开发验证，争取最短上市时程
• 针对车用芯片测试开发及量产，依车规要求进行管控

测试机台

• 依客户产品特性，提供V93K、UltraFLEX、J750、Chroma 3650、STS8200、CAT8280…相应的测试平台规划、开发，满足客户全方位品质、成本、效率需求。
• 提供不同测试平台间的转换，满足客户最佳量产目的需求。

机台板卡

• 依产品特性，搭配合适测试板卡资源，帮助客户取得合理量产成本。

测试治具

• 提供探针卡(Probe Card)、测试载板(Load Board)、老化子母板(Burn-in Board)、测试座(Socket)、测试配件(Change Kit)的设计、生产管理。

程序开发

• 支持WGL, STIL, TSTL2 pattern格式开发

• 支持各大测试平台间的pattern格式转换

• IIC、UART、JTAG、SWD…通讯端口格式测试程序开发

• 客制通讯端口格式的程序开发
• OTP(One Time Programing)测试程序开发

特性分析

• 依据产品设计规格及测试计划来规划特性分析
• 开发专用于特性分析的测试及分析程序，检视产品特性分布

• 收集及分析产品特性量测数据，制定改善方案

核心机台商